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預擊穿區:是指在此區域內,施加于壓敏電阻器兩端的電壓小于其壓敏電壓,其導電屬于熱激發電子電導機理。因此,壓敏電阻器相當于一個10MΩ以上的絕緣電阻,這時通過壓敏電阻器的阻性電流僅為微安級,可看作為開路。該區域是電路正常運行時壓敏電阻器所處的狀態。
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老化機理:
曾經被認為是老化的起因的有電子陷阱,偶極子轉向,氧脫附和離子遷移,目前能證實的只有填隙鋅離子遷移。一般認為老化是晶界現象,是由于耗盡層內離子遷移,而Zni是主要的遷移離子。
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