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壓敏電阻交流作用下的老化機理
交流作用下。在正半周時,假設右側為正極性,電壓主要加在右側的耗盡層上,使右側的Zni向晶界遷移,而左側所加電壓很低,Zn
i向晶粒內遷移不大;在負半周,電壓主要加在左側,使左側Zni向晶界遷移,右側這時所加電壓很低,Zni向晶粒體內遷移不大??偟慕Y果是左右兩側的Zni都向晶界遷移。
源林電子是一家專業研發、生產壓敏電阻的高科技電子元器件企業。主營壓敏電阻、熱敏電阻和溫度傳感器,自有研發團隊,廠家直銷!
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峰值能量Em
峰值能量Em是指壓敏電阻能夠耗散的規定波形的浪涌電流或脈沖電流的能量。峰值能量是產品能夠承受規定次數的
2ms方波或10/1000us脈沖電流峰值,這是用戶選擇防護操作電壓用ZnO壓敏電阻器時的重要參考值。
源林電子的壓敏電阻廣受贊譽,可靠性高、性價比高,具有很強的市場競爭力,想了解更多壓敏電阻資料,歡迎來電咨詢!
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ZnO是六方晶系纖鋅礦結構,其化學鍵處于離子鍵與共價鍵的中間鍵型狀態,氧離子以六方密堆,鋅離子占據一半的四面體空隙,鋅和氧都是四面體配位。ZnO是相對開放的晶體結構,開放的結構對缺陷的性質及擴散機制有影響,所有的八面體間隙和一半的四面體間隙是空的,正負離子的配位數均為4,所以容易引入外部雜質,ZnO熔點為2248,密度為5.6g/cm3,純凈的ZnO晶體,其能帶由02-的滿的2p電子能級和Zn2+的空的4s能級組成,禁帶寬度為3.2~3.4eV,因此,室溫下,滿足化學計量比的純凈ZnO應是絕緣體,而ZnO中常見的缺陷是金屬填隙原子,所以它是金屬過剩(Zn1+xO)非化學計量比n型半導體。
Eda等認為,在本征缺陷中,填隙鋅原子擴散快,對壓敏電阻穩定性有很大影響。
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