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壓敏電阻的物理特性:
ZnO 壓敏電阻的非線性是一種晶粒邊界現象,即在相 鄰晶粒耗盡層中存在多數電荷載流子(電子)的勢壘。認 為肖特基勢壘像 ZnO 微結構中晶粒邊界勢壘。晶粒邊界 上的負表面電荷(電子捕獲)是由晶界面兩側晶粒的耗盡 層的正電荷來補償的。熱電子發射和隧道效應是主要的傳 輸機制。 近發展的壓敏電阻勢壘的晶粒邊界缺陷模型在改進 穩電壓應力下,壓敏電阻的穩定性上取得了很大進展。
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晶粒邊界到晶粒的電位陡降發生在≈50 ̄100nm 的距離內,稱為耗盡層。這樣, 在每個晶粒邊界處都存在晶粒邊界向兩側延展入相鄰晶粒 的耗盡層。晶粒間存在耗盡層提高了壓敏電阻的作用。 晶粒邊界兩側兩個耗盡層的存在,使得 ZnO 壓敏電 阻對極性變化不敏感。在這一方面,壓敏電阻像一個背對 背的二極管。進一步說,由于晶粒邊界附近區域的電子被 耗盡,當施加外電壓時,跨在晶粒邊界上出現一電壓降。 這被稱作勢壘電勢,一般是≈2 ̄4V/(每晶粒邊界)。
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靜態電容量(PF)
靜態電容量指壓敏電阻器本身固有的電容容量。
響應時間τ
IEEE定義的壓敏電阻的響應時間τ并不是壓敏電阻材料本身的特性,而是由測試波形、引線、印制電路版的布線方式、外部測試連接線,以及它們所構成的磁環路等外部原因造成的,根據這一定義,對8/20 μs標準雷電流波或TS>8 μs的電流波,壓敏電阻的響應時間τ=0。
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