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老化的表現:
老化是指在各種外加應力及外界因素作用下,其性能及電氣物理參數發生改變,逐步偏離其起始性能指標。ZnO壓敏電阻器老化后的I-V特性,老化主要集中在預擊穿區,而擊穿區的老化較小,表現為I-V特性曲線在低電場區向右偏移,阻性電流加大,功率損耗增大,壓敏電壓下降。直流電壓作用后的老化,I-V特性不對稱;交流電壓作用下的老化。另老化后電容量減小,介電損耗增大。
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低電場區域的漏電流
漏電流包括阻性和容性兩部分,交流電壓下容性電流比阻性電流大得多。溫度升高或電場增大,阻性電流增大。壓敏電壓的溫度系數在-10-4/℃—-10-3/℃之間,計算公式如下:
T=dU1mA/(U1mAdT)
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壓敏電阻的物理特性:
ZnO 壓敏電阻的非線性是一種晶粒邊界現象,即在相 鄰晶粒耗盡層中存在多數電荷載流子(電子)的勢壘。認 為肖特基勢壘像?。冢睿稀∥⒔Y構中晶粒邊界勢壘。晶粒邊界 上的負表面電荷(電子捕獲)是由晶界面兩側晶粒的耗盡 層的正電荷來補償的。熱電子發射和隧道效應是主要的傳 輸機制。 近發展的壓敏電阻勢壘的晶粒邊界缺陷模型在改進 穩電壓應力下,壓敏電阻的穩定性上取得了很大進展。
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